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產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
詳情介紹:
華測儀器 表面電位衰減測試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介表面電位衰減測試系統(tǒng)是一款面向材料電學(xué)特性研究的多功能分析設(shè)備,能夠評(píng)估介質(zhì)材料表面電荷動(dòng)態(tài)衰減行為及陷阱能級(jí)分布,系統(tǒng)集高壓極化、準(zhǔn)確溫控、快速信號(hào)采集及智能化分析于一體,支持針、柵、板三種電極配置,可模擬不同溫濕度環(huán)境下的材料電荷動(dòng)態(tài)響應(yīng),為絕緣材料、功能薄膜、電子器件等領(lǐng)域的研究與質(zhì)量控制提供數(shù)據(jù)支持。
技術(shù)參數(shù)
充電電源:±30 kV
加熱臺(tái)溫度范圍:室溫 ~ 160 ℃
控溫精度:± 0.2 ℃
輸入電壓:AC 220 V ±10%,50 HZ
額定輸出電壓:0~+30kV
額定輸出電流:≤ 1 mA
溫度系數(shù):≤ 0.1 %/℃
測量范圍:0 ~ ±10 kV
穩(wěn)定性:時(shí)間漂移<100 ppm/小時(shí)(非累積);溫度漂移<200 ppm/℃
極化電極:針、柵、板電極
電極材質(zhì):銀或黃銅
應(yīng)用領(lǐng)域
絕緣材料研發(fā)
評(píng)估高壓電纜、電容器薄膜等介電材料的耐壓性能與電荷消散特性;
功能薄膜分析
研究光伏背板、柔性電子器件的表面電荷行為及陷阱效應(yīng);
半導(dǎo)體器件優(yōu)化
表征柵極介質(zhì)層、封裝材料的電荷陷阱分布,提升器件可靠性;
科研與教育
高校及實(shí)驗(yàn)室用于電介質(zhì)物理、材料科學(xué)等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究與教學(xué)實(shí)驗(yàn);
電力設(shè)備質(zhì)檢
檢測絕緣子、變壓器套管等電力裝備的絕緣老化狀態(tài)及壽命預(yù)測。
