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產品詳情
  • 產品名稱:絕緣材料耐電流電弧試驗儀

  • 產品型號:HCDH-4
  • 產品廠商:華測儀器
  • 產品價格:0
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簡單介紹:
絕緣材料耐電流電弧試驗儀由華測儀器生產,是為電氣絕緣材料測試而設計的設備,適用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等的耐電弧性能,模擬電弧放電環境,對絕緣材料進行高壓電弧激發測試其耐電弧性能。
詳情介紹:

絕緣材料耐電流電弧試驗儀

絕緣材料耐電流電弧試驗儀由華測儀器生產,是為電氣絕緣材料測試而設計的設備,適用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等的耐電弧性能,模擬電弧放電環境,對絕緣材料進行高壓電弧激發測試其耐電弧性能。

測試儀采用TVS高壓防護系統,保證防護性;采用SPWM電子升壓技術,穩定性好;配備電壓、電流傳感器以保證試驗數據的有用性;搭配智能化軟件,具備彈性的自定義功能,可進行手動試驗階段設置、國標與IEC試驗標準切換等,符合測試多樣化的需求。

高準度的輸出與測量規格,保障測度的器質,適用于需要可造數據的檢測,例如:硅橡膠測試、PCB板耐電弧測試、云母、四氟材料電弧測試、也可作為新材料的耐電弧性的性能測試。

測試過程中有過電壓、過電流等異常情況以保證測試過程的防范措施;資料保存機制:當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于執行器中,不丟失試驗數據,啟動后可恢復原有試驗數據


依據標準

GB/T 1411-2002《干固體絕緣材料耐高電壓、小電流電弧放電的試驗》

GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》

IPC650《印刷電路板(PCB)和模塊的測試方法》

IEC 61621-1997《絕緣材料耐高壓低電流電弧放電的試驗》

ASTM D495《固體電絕緣的高電壓、低電流、干電弧電阻測試標準》


產品優勢

TVS瞬間防護技術

耐電弧試驗儀采用光耦隔離方式,同時配置TVS瞬間防護技術,對于電弧放電過程中對控制系統的浪涌起到防護

多級循環電壓采集技術

提升電弧試驗普遍采用手動及干擾狀態下電壓及電流采集方式

低通濾波電流監測技術

材料耐電弧試驗在10~40mA電流下進行,強大的電磁干擾不僅影響試驗精度,同時也造成通訊中斷等一系列問題。華測儀器將低通濾波技術在電弧試驗儀器運用,解決了問題

電流準確性及人員防護

設備具有兩套電流檢測系統,一套是純機械式的,一套是電子軟件式的,可以保證測試過程中的電流準確。設備防護門采用防眩目式亞克力材料,可以保護實驗者的眼睛不會受到電弧損害


產品特點

TVS高壓防護系統

西門子PLC控制系統

手動試驗、自動試驗兩種

多級循環電壓、電流采集

精度電壓、電流測量

快速切換試驗標準

支持新國際標準

報表資料分析功能

在線故障提示功能

遠程在線升級功能


軟件功能

友善的使用界面

多語界面:支持中文/英文兩種語言界面

即時監控:系統測試狀態即時瀏覽,無需等待

圖例管理:狀態圖示一目了然,清晰易懂

使用權限:可設定使用者權限,方便管理

故障狀態:軟件具有設備的故障預警功能

工步編輯:

1. 可選擇是否語言提示功能

2. 截止條件:材料失效

3. 可選擇是否自定義或自動試驗

4. 根據需求可選擇試驗標準


產品參數

試驗電壓12.5kV(標準IEC.ASTM

電壓精度1.5

電流精度1.5

升壓方式SPWM程控式升壓

電弧通斷誤差:<±1ms

試驗方式:間隙電弧、連續電弧

供電電壓AC 220V  50/60Hz

設備功率2kVA


應用領域

橡膠類材料電學檢測

四氟、ABS、尼龍等材料

油脂、硅脂、絕緣油檢測

PCB

薄膜材料、云母材料

光伏膜材料

絕緣漆

陶瓷、玻璃纖維等



公司簡介

Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument.    It is a company engaged in research and development, production and manufacturing.    The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.

The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.


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