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高溫四探針測試儀上市了
日期：2025-08-21 19:30
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摘要：高溫四探針測試系統
1.測量高溫、真空、氣氛下薄膜方塊電阻和薄層電阻率；
2.、觸摸屏、高溫爐等集成于一體，可以進行可視化操作；
3.現純凈氣氛條件下的測量；同時保證探針在高溫下不氧化；
4.labview軟件開發，操控性、兼容性好、方便升級；
5.動調節樣品測試電壓，探針和薄膜接觸閃絡現象；
6.和測溫采用同一個傳感器，保證樣品每次采集的溫度都是樣品實際溫度；
7.套使用Keithley2400或2600數字多用表；
