華測儀器多通道電流矩陣模塊產(chǎn)品說明

在電流控制與測試領(lǐng)域，華測儀器多通道電流矩陣模塊憑借模塊化、高密度的設(shè)計，成為應(yīng)對并行化測試、自動化產(chǎn)線及復(fù)雜實(shí)驗(yàn)場景的重要解決方案。該模塊專注于多路電流通道的獨(dú)立控制，支持同時輸出或吸入可調(diào)的直流電流，通過的矩陣開關(guān)架構(gòu)，用戶可自由配置各通道的電流值（覆蓋pA至mA級）、工作模式（恒流/脈沖/掃描）及通斷時序，為各類測試需求提供支持。

該模塊本身不進(jìn)行電流測量，而是作為核心組件，為靜電計（如Keithley 6517B、6430、6485/6487）或源測量單元提供可靠、低噪聲、低熱電動勢（EMF）的通道擴(kuò)展能力。借助這一功能，用戶可將單臺昂貴的儀表升級為高效的多通道自動化測試系統(tǒng)，無論是研發(fā)實(shí)驗(yàn)室開展材料特性分析，還是生產(chǎn)線上進(jìn)行半導(dǎo)體器件批量測試，都能提升測試效率、保證數(shù)據(jù)一致性。

一、產(chǎn)品特點(diǎn)

1. 高通道密度，節(jié)省空間與成本：單機(jī)箱*高可支持128通道，相比傳統(tǒng)多設(shè)備組合方案，能節(jié)省90%的設(shè)備空間，同時大幅降低機(jī)柜購置與線纜鋪設(shè)成本，尤其適合空間有限的實(shí)驗(yàn)室或產(chǎn)線環(huán)境。

2. 高速切換，適配動態(tài)測試：矩陣開關(guān)切換時間僅20ms，可輕松支持動態(tài)負(fù)載切換與高速掃描測試，減少測試流程中的等待時間，提升整體測試節(jié)奏。

3. 靈活擴(kuò)展，滿足多樣需求：支持熱插拔通道卡，通道數(shù)擴(kuò)展具備高度靈活性。以8通道為基礎(chǔ)增量，從*小8通道起步，用戶可根據(jù)實(shí)際測試規(guī)模按需調(diào)整通道數(shù)量，避免資源浪費(fèi)。

4. 低電容設(shè)計，加速信號穩(wěn)定：采用低電容設(shè)計，有助于快速建立穩(wěn)定的測量信號，縮短信號穩(wěn)定所需時長，進(jìn)一步優(yōu)化測試效率，保障測試流程順暢推進(jìn)。

5. 寬動態(tài)范圍，低干擾與誤差：信號路徑可在±1pA至±100mA的寬動態(tài)范圍內(nèi)切換信號，在此過程中引入的干擾和誤差較小，既能滿足高阻值材料漏電測試的精細(xì)需求，也能適配一般電子元件特性分析的常規(guī)場景。

6. 優(yōu)化設(shè)計，保障微弱電流測試：通過低熱電動勢（<1μV）設(shè)計，減少熱電效應(yīng)對微弱直流測量的影響；采用極低漏電流路徑（典型值< 1fA），為pA級微弱電流測量提供數(shù)據(jù)保障；同時，優(yōu)化的屏蔽與布線設(shè)計，能降低串?dāng)_和外部噪聲干擾，為測試環(huán)境提供穩(wěn)定支持。

二、詳細(xì)參數(shù)規(guī)格

1. 產(chǎn)品型號：HC-PAX

2. 通道數(shù)量：基礎(chǔ)單元為8通道，單機(jī)箱*大支持128通道；若需更大規(guī)模測試，可擴(kuò)展至8臺機(jī)箱協(xié)同工作，總通道數(shù)可達(dá)1024通道，滿足超大批量測試需求。

3. 電流范圍：覆蓋±1pA至±100mA，寬范圍適配不同量級的電流控制與信號切換需求。

4. 接口配置：電流接口分口采用8芯雷莫接口，總口采用BNC接口，符合行業(yè)通用標(biāo)準(zhǔn)，方便與各類高精度儀表、測試設(shè)備連接；通信接口為RS485，保障設(shè)備間數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定，便于融入自動化控制系統(tǒng)。

5. 供電要求：支持100-240V AC寬幅交流供電，適配不同地區(qū)電網(wǎng)電壓標(biāo)準(zhǔn)，頻率兼容50/60Hz；單機(jī)箱*大功耗僅60W，能耗較低，長期使用成本可控。

6. 外形與環(huán)境適應(yīng)：外形尺寸為長44cm×寬13.5cm×高30cm（不含所有凸起），結(jié)構(gòu)緊湊，易于集成安裝；工作溫度范圍為10℃~+50℃，工作濕度為40%~60% RH且無冷凝，能在多數(shù)實(shí)驗(yàn)室、產(chǎn)線常規(guī)環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行，環(huán)境適應(yīng)性較強(qiáng)。

三、廣泛應(yīng)用領(lǐng)域

1. 高阻材料與元件測試：可用于絕緣材料、陶瓷、薄膜、高阻值電阻等產(chǎn)品的電阻率及漏電流自動化測量，為相關(guān)材料與元件的質(zhì)量檢測、性能分析提供支持。

2. 半導(dǎo)體器件特性分析：針對晶體管、二極管的漏電流測試，電容漏電檢測，以及晶體級可靠性測試等場景，提供穩(wěn)定的通道切換功能，助力獲取測試數(shù)據(jù)。

3. 傳感器測試與標(biāo)定：適配光電二極管暗電流測試、電化學(xué)傳感器與生物傳感器電流檢測，以及輻射探測器電流測量等需求，為傳感器的性能測試與標(biāo)定提供助力。

4. 電池與儲能測試：可應(yīng)用于電池自放電電流監(jiān)測，以及電池模組、Pack的絕緣電阻測試，為電池與儲能產(chǎn)品的**性能、續(xù)航能力評估提供數(shù)據(jù)支撐。

5. 靜電與ESD研究：支持防靜電材料電阻率測量與靜電荷衰減測試，為靜電防護(hù)材料研發(fā)與ESD相關(guān)研究提供可靠的測試條件。

6. 光電與光伏器件測試：適用于太陽能電池暗電流測試、LED/OLED微弱漏電流檢測，以及探測器陣列測試等場景，推動光電與光伏領(lǐng)域產(chǎn)品的研發(fā)與質(zhì)量管控。

7. 環(huán)境監(jiān)測與科學(xué)儀器：可用于電離室電流采集，以及多通道微弱信號切換，為環(huán)境監(jiān)測設(shè)備與各類科學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器提供穩(wěn)定的信號傳輸與切換解決方案。

8. 多器件并行參數(shù)測試：配合源表設(shè)備，能夠?qū)崿F(xiàn)批量器件的I-V掃描、導(dǎo)通電阻測量等并行參數(shù)測試，大幅提升批量器件測試效率，降低測試成本。

四、典型應(yīng)用案例

1. 搭建高通道測試系統(tǒng)：借助該模塊，用戶可輕松構(gòu)建高通道數(shù)的微弱電流/高阻自動化測試系統(tǒng)，滿足多樣品同時測試的需求，尤其適合材料研發(fā)與元件篩選階段的高效測試。

2. 提升儀表利用效率：將靜電計通過模塊擴(kuò)展為多通道測試系統(tǒng)，無需額外購置多臺高價儀表，即可實(shí)現(xiàn)多通道測試功能，顯著提升現(xiàn)有儀表的利用率，降低設(shè)備投入成本。

3. 實(shí)現(xiàn)無人值守測試：支持長時間、多樣品連續(xù)測試，配合自動化控制程序，可實(shí)現(xiàn)無人值守測試模式，減少人工干預(yù)，避免人為操作誤差，同時保證不同樣品測試數(shù)據(jù)的一致性和可比性。

4. 捕捉微弱電流變化：憑借的低干擾、低漏電流設(shè)計，能夠捕捉pA級甚至fA級的微弱電流變化，電子等領(lǐng)域?qū)ξ⑷蹼娏餍盘枡z測的要求，為技術(shù)研發(fā)提供數(shù)據(jù)支持。

華測儀器多通道電流矩陣模塊以其性價比、可靠性與廣泛適配性，為各行業(yè)用戶的電流測試需求提供靈活、高效的解決方案，推動測試流程向自動化、高效化升級，助力用戶在研發(fā)與生產(chǎn)中提升競爭力。