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功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用

日期:2025-09-13 00:27
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摘要:華測(cè)儀器生產(chǎn)的功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)HCTD 3000,是一款契合科研、材料開發(fā)、工業(yè)生產(chǎn)等多領(lǐng)域需求的專業(yè)測(cè)試設(shè)備。該系統(tǒng)測(cè)量技術(shù)、自動(dòng)化控制技術(shù)與高效數(shù)據(jù)分析算法,能夠?qū)Ω黝惞δ懿牧系碾妼W(xué)性能展開評(píng)估,可實(shí)現(xiàn)鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等多項(xiàng)電學(xué)測(cè)試,為材料科學(xué)家、工程師及研究人員的工作提供有力支撐。

功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用

華測(cè)儀器生產(chǎn)的功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)HCTD 3000,是一款契合科研、材料開發(fā)、工業(yè)生產(chǎn)等多領(lǐng)域需求的專業(yè)測(cè)試設(shè)備。該系統(tǒng)測(cè)量技術(shù)、自動(dòng)化控制技術(shù)與高效數(shù)據(jù)分析算法,能夠?qū)Ω黝惞δ懿牧系碾妼W(xué)性能展開評(píng)估,可實(shí)現(xiàn)鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等多項(xiàng)電學(xué)測(cè)試,為材料科學(xué)家、工程師及研究人員的工作提供有力支撐。

一、產(chǎn)品核心優(yōu)勢(shì)助力多場(chǎng)景應(yīng)用

(一)擴(kuò)展優(yōu)勢(shì)保障應(yīng)用靈活性

此系統(tǒng)具備豐富的測(cè)試能力,不僅能完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等常規(guī)電學(xué)測(cè)試,還可開展高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。在與其他電學(xué)檢測(cè)儀器的協(xié)作方面,研發(fā)團(tuán)隊(duì)在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理以及軟件兼容性上搭建了大量接口,極大降低了系統(tǒng)擴(kuò)展的難度,同時(shí)節(jié)省了改造過(guò)程中的時(shí)間與硬件成本,使其能輕松適配不同測(cè)試需求的場(chǎng)景。

(二)性能優(yōu)勢(shì)確保應(yīng)用可靠性

為保障測(cè)試過(guò)程的穩(wěn)定與**,系統(tǒng)增加了TVS保護(hù)過(guò)壓、過(guò)流、過(guò)溫等技術(shù)。在軟件操作層面,從測(cè)試功能、數(shù)據(jù)處理到整體操作流程,都進(jìn)行了多方面優(yōu)化,更貼合用戶使用習(xí)慣;在測(cè)量數(shù)據(jù)方面,與多款其他儀器開展了大量測(cè)試對(duì)標(biāo)工作,并且與計(jì)量院深度合作進(jìn)行檢測(cè)計(jì)量,保障了測(cè)試數(shù)據(jù)的真實(shí)性,讓科研與生產(chǎn)過(guò)程中的測(cè)試結(jié)果更具參考價(jià)值。

(三)研發(fā)優(yōu)勢(shì)奠定應(yīng)用專業(yè)性

系統(tǒng)背后的研發(fā)團(tuán)隊(duì)匯聚了多領(lǐng)域、多學(xué)科的博士、碩士技術(shù)人員,自團(tuán)隊(duì)成立以來(lái),得到了多方科研機(jī)構(gòu)、大學(xué)試驗(yàn)室的支持。此外,還聘請(qǐng)了多個(gè)知名院校的教授,組建了“華測(cè)儀器顧問(wèn)團(tuán)”,強(qiáng)大的研發(fā)實(shí)力為系統(tǒng)在各領(lǐng)域的專業(yè)應(yīng)用奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。

(四)定制化服務(wù)滿足個(gè)性化應(yīng)用需求

華測(cè)儀器的電學(xué)試驗(yàn)室配備了泰克、是德科技等國(guó)外大批檢測(cè)設(shè)備;在生產(chǎn)制造方面,公司擁有4軸、5軸CNC加工地、超精磨床等大量生產(chǎn)、加工設(shè)備,這些硬件條件使得在工裝、夾具定制化方面更加便捷,能夠根據(jù)不同用戶的特殊測(cè)試需求,提供個(gè)性化的解決方案,滿足多樣化的應(yīng)用場(chǎng)景。

二、豐富測(cè)試模塊覆蓋多樣應(yīng)用需求

(一)鐵電參數(shù)測(cè)試功能

可實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率、靜態(tài)電滯回線測(cè)試、脈沖測(cè)試、疲勞測(cè)試、保持力、印跡、漏電流測(cè)試以及變溫測(cè)試功能,為鐵電材料相關(guān)的研究與生產(chǎn)提供的參數(shù)測(cè)試支持,適用于鐵電材料性能分析、器件研發(fā)等應(yīng)用場(chǎng)景。

(二)絕緣電阻測(cè)試功能

具備高準(zhǔn)確度的電壓輸出與電流測(cè)量能力,適用于功能材料在高溫環(huán)境下的數(shù)據(jù)檢測(cè),例如陶瓷材料、硅橡膠、PCB、云母、四氟材料的電阻測(cè)試,同時(shí)也可用于科研院所對(duì)新型材料高溫絕緣電阻性能的測(cè)試,廣泛應(yīng)用于材料篩選、產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)等領(lǐng)域。

(三)壓電參數(shù)測(cè)試功能

能夠進(jìn)行壓電陶瓷的唯靜態(tài)d33等參數(shù)測(cè)試,還可通過(guò)高壓配合位移傳感器(如激光干涉儀)以動(dòng)態(tài)法測(cè)量壓電系數(shù),為壓電材料的研發(fā)、性能優(yōu)化以及相關(guān)器件生產(chǎn)提供關(guān)鍵參數(shù)依據(jù),應(yīng)用于壓電傳感器、壓電驅(qū)動(dòng)器等產(chǎn)品的研發(fā)與生產(chǎn)環(huán)節(jié)。

(四)高溫四探針測(cè)試功能

符合功能材料中導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其他新材料在高溫環(huán)境下多樣化的測(cè)試需求。所采用的雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀,運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量方式,其設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)標(biāo),并參考美標(biāo)A.S.T.M,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途,助力半導(dǎo)體材料、導(dǎo)體材料等領(lǐng)域的科研與生產(chǎn)工作。

(五)熱釋電測(cè)試功能

主要針對(duì)薄膜及塊體材料變溫狀態(tài)下的熱釋電性能測(cè)試,采用電流法測(cè)量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度隨溫度和時(shí)間變化的曲線。其中,薄膜材料變溫范圍為-196℃~+600℃,塊體材料變溫范圍涵蓋室溫~200℃、室溫~600℃、室溫~800℃,滿足不同類型熱釋電材料在不同溫度條件下的性能測(cè)試需求,應(yīng)用于熱釋電探測(cè)器、紅外傳感器等相關(guān)材料與器件的研發(fā)。

(六)介電溫譜測(cè)試功能

可在寬頻、高低溫環(huán)境條件下,對(duì)功能材料的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量進(jìn)行分析,同時(shí)還能分析被測(cè)樣品隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓變化的曲線,此外也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測(cè)試,為材料介電性能研究、產(chǎn)品性能評(píng)估提供**數(shù)據(jù),應(yīng)用于電子陶瓷、電容器材料等領(lǐng)域的研發(fā)與生產(chǎn)檢測(cè)。

(七)塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)

適用于半導(dǎo)體、陶瓷材料、金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析,還可根據(jù)用戶需求配置薄膜測(cè)量選件、低溫選件(溫度范圍- 100℃~200℃)以及高阻選件(高至10MΩ),能夠滿足不同材料在不同測(cè)試條件下的熱電性能測(cè)試需求,應(yīng)用于熱電材料研發(fā)、新能源器件等領(lǐng)域。

(八)電卡效應(yīng)測(cè)試功能

可用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能,其溫度范圍為- 50℃~200℃,熱流時(shí)間范圍為1s-1000s,電壓可達(dá)10kV,支持用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預(yù)定義波形等多種波形,為電卡材料的研究與相關(guān)制冷器件的開發(fā)提供測(cè)試支持,應(yīng)用于新型制冷技術(shù)、儲(chǔ)能材料等領(lǐng)域的科研工作。

(九)熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀TSDC

通過(guò)該測(cè)試儀可研究功能材料性能的關(guān)鍵因素,如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等,同時(shí)借助TSDC技術(shù)能直觀研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)介電特性,為材料微觀性能研究提供重要數(shù)據(jù)支撐,應(yīng)用于高分子材料、陶瓷材料等領(lǐng)域的科研工作。

三、完善配置支撐**應(yīng)用

系統(tǒng)配置包含鐵電分析儀、高壓放大器、測(cè)試夾具系統(tǒng)控制器、測(cè)試夾具、位移傳感器以及高低溫環(huán)境組合。憑借這些完善的配置,能夠?qū)崿F(xiàn)功能材料的鐵電性能、壓電性能、熱釋電性能測(cè)試以及熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀TSDC等功能測(cè)試,為各領(lǐng)域的應(yīng)用提供了硬件保障,確保測(cè)試工作的順利開展。

四、廣泛應(yīng)用領(lǐng)域

功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)HCTD 3000的應(yīng)用領(lǐng)域十分廣泛,涵蓋鐵電材料、電子陶瓷、熱釋電、薄膜等材料領(lǐng)域,同時(shí)在科學(xué)研究、材料開發(fā)、工業(yè)生產(chǎn)以及器件測(cè)試等環(huán)節(jié)發(fā)揮重要作用,并且適用于電子、電氣、能源等多個(gè)行業(yè),為各行業(yè)的材料研究與產(chǎn)品生產(chǎn)提供了專業(yè)的測(cè)試解決方案,推動(dòng)相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)發(fā)展與產(chǎn)品**。

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