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絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統的技術指標與配件參數
日期：2025-10-17 05:38
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摘要：
絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統的技術指標與配件參數
產品簡介
絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統是一種信賴性試驗設備，它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現象發生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現象的影響。
技術指標：
測量電壓:100 ~ 1500V（可定制）
測試通道:128通道（可定制至高960通道）
測試時長:可連續運行1500小時
測試溫度:85℃（可定制）
測試濕度:85%（可定制）
測量范圍:...
絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統的技術指標與配件參數
產品簡介
絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統是一種信賴性試驗設備，它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現象發生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現象的影響。技術指標：
測量電壓:100 ~ 1500V（可定制）
測試通道:128通道（可定制至高960通道）
測試時長:可連續運行1500小時
測試溫度:85℃（可定制）
測試濕度:85%（可定制）
測量范圍:1×10^5 ~ 1×10^15Ω
極化電壓:100 ~ 1500V（可定制）
掃描周期:至快2分鐘（128通道）
環境試驗箱（可定制）
恒溫試驗箱：
型號：HC-80
溫度范圍：RT~＋100℃
內部容積（L）：80
型號：HC~512
溫度范圍：RT~＋200℃
內部容積（L）：512
迷你高低溫環境箱：
支持覆蓋超低溫范圍的較寬溫度范圍(-40℃/-70℃)至高溫范圍(+100℃/+150℃)，具備超溫保護切斷加熱斷路器功能。
型號：HC-35
溫度范圍：-40~＋100℃
內部容積( L)：35
型號：HC-70
溫度范圍：-70~＋200℃
內部容積（L）：70
應用領域
電子材料：印BGA、CSP等節距IC封裝件；
封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導電膠等有關印刷電路板材料；
有機半導體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；
電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料；
絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評估。
