華測(cè)儀器 多通道介電電阻測(cè)試模塊 LCR表

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
多通道介電性能分析測(cè)試模塊是一種集成化測(cè)試系統(tǒng)，主要用于評(píng)估材料的介電性能與電阻特性，可以搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)等設(shè)備使用，此測(cè)試模塊穩(wěn)定性強(qiáng)，能夠?qū)崿F(xiàn)智能化與自動(dòng)化，設(shè)備可靠耐用，采用了模塊化設(shè)計(jì)，在材料科學(xué)、新能源、半導(dǎo)體等領(lǐng)域中被廣泛應(yīng)用。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
多通道介電性能分析測(cè)試模塊采用高速且耐用的光耦繼電器，切換時(shí)間為 1ms，配備高速 I/O 輸出控制功能，并搭配專用 PC 軟件，操作簡(jiǎn)單便捷。
LCR 多路測(cè)試軟件
1.掃描、比較器
設(shè)備可針對(duì)所有通道設(shè)置測(cè)試條件，包括量程、頻率、比較器等，能夠選定某個(gè)通道進(jìn)行 ON 與 OFF 操作，且支持循環(huán)進(jìn)行掃描測(cè)試，同時(shí)可在本地保存測(cè)試條件。
2.OPEN與SHORT 補(bǔ)償
LCR 多路測(cè)試軟件的 OPEN與SHORT 補(bǔ)償功能可對(duì)應(yīng)各通道進(jìn)行開短路補(bǔ)償；若利用 LCR 的設(shè)置切換功能會(huì)需要較長(zhǎng)的切換時(shí)間，而通過在軟件內(nèi)進(jìn)行開短路補(bǔ)償計(jì)算，則能夠維持高速的掃描時(shí)間。
3.數(shù)據(jù)保存
測(cè)試完成后，掃描的數(shù)據(jù)可根據(jù)通道進(jìn)行保存
應(yīng)用領(lǐng)域
華測(cè)儀器 多通道介電性能分析測(cè)試模塊可應(yīng)用于半導(dǎo)體與電子器件研究、新能源與電力設(shè)備、材料科學(xué)研究、工業(yè)質(zhì)量控制等領(lǐng)域。